無損顆粒檢測系統

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更新時間：2025-07-02

簡要描述：無損顆粒檢測系統是由美國ZebraSCI研究開發并生產的。該系統對計數和跟蹤溶液中的亞可見和可見粒子很敏感。

品牌	美國ZebraSCI	產地	進口

FLEX P臺式粒子成像系統，ZebraSCI Flex P無損顆粒檢測系統詳細介紹：

FLEX P臺式粒子成像系統，ZebraSCI Flex P無損顆粒檢測系統是由美國ZebraSCI研究開發并生產的。

經過驗證的Flex P可無損地解決容器中的顆粒數量和尺寸分布。該系統對計數和跟蹤溶液中的亞可見和可見粒子很敏感。跟蹤算法很重要，因此該機器減少了重復計數，并且可以對溶液中的顆粒進行表征，而其他視覺系統卻被容器上的顆粒和表面缺陷所迷惑。跟蹤算法也很重要，因此氣泡不會被視為顆粒。Flex P系統旨在適應各種常見的主容器尺寸而無需更換零件。Flex P系統核心的光學和自動化與我們的高速衛星系統相同，但設計緊湊且非常適合實驗室環境。